M-Z光學干涉儀
- 產品型號：
- 更新時間：2023-03-14
- 產品介紹：M-Z光學干涉儀通過比較被測物和參考物的相位（表現為條紋的變化），從而實現被測物的物理量的測量。
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產品介紹
M-Z光學干涉儀產品說明：
馬(ma)赫-曾德干(gan)涉儀屬于(yu)一(yi)種等光(guang)程比較干(gan)涉。通過比較被(bei)測(ce)物和參考物的相(xiang)位（表(biao)現為條(tiao)紋的變化），從而實現被(bei)測(ce)物的物理量(liang)的測(ce)量(liang)。馬(ma)赫-曾德干(gan)涉儀通常用(yong)于(yu)測(ce)量(liang)透(tou)明介質折射率的微(wei)小變化，可用(yong)于(yu)氣(qi)體、液(ye)體、透(tou)明固體、沖(chong)擊波及(ji)熱傳(chuan)導等方面的研(yan)究。
M-Z光學干涉儀技術參數：
參(can)數 | 大(da)值 | 小值 | 備注 |
視場 | Φ500mm | Φ50mm | |
干涉條紋間(jian)距 | 無窮大 | 0.1mm | |
圖像分析軟(ruan)件 | 滿足干涉條(tiao)紋背景濾波、二值化(hua)、細(xi)化(hua)與修像、標記、采(cai)樣(yang)讀數、物理(li)參數計算讀取等(deng)功能 | ||
成像傳感(gan)器 | 數碼單反相(xiang)機(ji)(ji)、高速相(xiang)機(ji)(ji)、記(ji)錄干板 | ||
光源 | 532nm激光光源、632.8nm激光光源 | ||
其他(ta) | 系統采用有(you)效的減(jian)振方(fang)式 | ||
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