多個波疊(die)加時，每一波相位波加強(qiang)的(de)部分(fen)中(zhong)相互匹配，其中(zhong)，通過利(li)用破壞性(xing)在相位反轉的(de)部分(fen)，波長（頻率）和測量相位差的(de)技術(shu)。利(li)用此原理的(de)設備主要稱為干涉(she)儀。
光學干涉(she)儀是一(yi)種利(li)用光(guang)的干(gan)涉(she)現(xian)象來(lai)測量長(chang)度、厚度、折射率等物理(li)量的儀器。它(ta)的工(gong)作(zuo)原理(li)是利(li)用光(guang)的波動性(xing)和干(gan)涉(she)現(xian)象，通過比較光(guang)程差來(lai)測量被測量體的長(chang)度或厚度等物理(li)量。
光學(xue)干涉儀的(de)基本組成部分包括光源、分束(shu)(shu)器(qi)、反(fan)(fan)射(she)鏡、光程差(cha)調(diao)節(jie)器(qi)和(he)檢測(ce)器(qi)。在工作時，光源發出的(de)光線(xian)經(jing)過分束(shu)(shu)器(qi)分成兩束(shu)(shu)光線(xian)，經(jing)反(fan)(fan)射(she)鏡反(fan)(fan)射(she)后(hou)再匯合。當兩束(shu)(shu)光線(xian)匯合后(hou)，由(you)于光的(de)波動性，它們會產生干涉現象，形成干涉圖(tu)樣，通過觀察干涉條紋(wen)的(de)形態和(he)移(yi)動情況，可以計算(suan)出被測(ce)物(wu)體的(de)長度或(huo)厚度等物(wu)理量(liang)。
光學(xue)干涉儀的(de)(de)應用(yong)非常(chang)廣泛，比如在工(gong)業(ye)生產(chan)中(zhong)(zhong)用(yong)于(yu)測(ce)量機械(xie)零件(jian)的(de)(de)長(chang)度(du)(du)和(he)厚度(du)(du)、在材料研究中(zhong)(zhong)用(yong)于(yu)測(ce)量材料的(de)(de)折射率和(he)厚度(du)(du)、在生物醫學(xue)中(zhong)(zhong)用(yong)于(yu)測(ce)量細胞(bao)和(he)組織的(de)(de)長(chang)度(du)(du)和(he)厚度(du)(du)等(deng)等(deng)。
